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低温低气压综合实验

1范围

光学和光学仪器环境试验方法

本部分规定了低温与低气压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。

本部分适用于在高山地区或飞机仪表盘上或导弹上使用的光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电学等特性受到低温与低气压影响的变化程度，包括测定水的冷凝和冻结对仪器或零部件的附加影响.

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T 12085的本部分的引用而成为本部分的条款.凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容〉或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本.

凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分.

GB/T 12085. 1 光学和光学仪器环境试验方法第1 部分术语、试验范围(GB/T 12085.1-

2010 , ISO 9022-1: 1994,MOD)

3试验条件

3. 1试验箱〈室〉必须是空气流通的低气压或是商空模拟试验箱〈室) ，它可以是低温、低气压的综合试验箱(室) ，也可将低气压箱放在低温室中。试验箱〈室〉的大小及试样安放的位置， 应能保证所有试样都处于均匀的环境条件下.

3.2在试验箱〈室〉内，试样需先达到规定的试验温度，然后再把箱内压力降到有关标准的规定值。

3.3按条件试验方法5 1(见4.2)进行试验时，在升压期间，可用高纯氯气或对试样辐射加热方法，避免试样上产生结籍和凝露.

3. 4试验箱(室〉内的温度和气压的变化应缓慢进行，以免引起试样的损坏.

3.5试样的各个部分都达到试验箱(室〉的温度士3 "C之内和气压达到规定值时暴露周期开始。散热试样应冷却到试验温度，在温度稳定的试验箱(室〉中试样的温度变化在1 h 内不大于士1 "C时，开始降低气压。在降压过程中，允许试样自身发热，直到试验压力达到规定值时作为暴露时间开始。暴露结束后压力和温度的升高同时开始，箱〈室〉内空气和试样的温度都应测量.温度传感器在试样上的位置应在有关标准中规定，用来测量箱〈室〉内空气温度的温度传感器的位置应在试验报告中说明.

3.6按条件试验方法50 进行试验后，试样在压力升高过程中产生结霜和凝露的方法应在相关标准中规定，可在下述方法中选用za) 在低气压条件下凝露的形成在温度为一20 "C - - 10 "c范围内和气压为40 kPa 以上的低气压范围内，在加热过程中将水蒸气注入试验箱〈室〉内.b) 在标准环境压力条件下凝露的形成在加热期间，试验室内的压力调到标准的环境压力，而温度仍保持在一20 .C--10 .C 之间，由于低温使水分凝结在试样上.

GB/T 12085.5-2010

4 条件试验

4. 1 条件试验方法50: 包括霜和露的低温、低气压综合试验条件试验方法50 包括霜和露的低温、低气压综合试验的严酷等级按表1。

4.2 条件试验方法51 :不包括霜和露的低温、低气压综合试验条件试验方法51 不包括霜和露的低温、低气压的综合试验的严酷等级按表1 中01 、02 、03 、04 、06 、07 的规定。5 试验程序

条件试验方法50 的试验程序参见附录A 。

6 环境试验标记

环境试验标记应符合GB/T 12085.1 的规定。

示例s光学仪器抗低温、低气压综合试验，环境试验条件方法51 、严酷等级01 、工作状态1 的标记为2环填试验GB/T 12085-51-01-1 .

7 有关标准应包括的内容

2a) 环境试验标记;

b) 试样数量;

c) 条件试验方法50 结霜的起始时间和产生方法;

d) 温度传感器在试样上的位置;

e) 预处理s

f) 初始检测的内容和范围;

g) 工作状态2 工作周期的确定;

h) 工作状态2 中间检测的内容和范围;

i) 恢复F

j) 最后检测的内容和范围;

k) 评价判据

1) 试验报告的内容和范围.